正しい波形が観察できるプローブの回路はどっち？ | CQ出版社 オンライン・サポート・サイト CQ connect
図1の回路(a)と(b)は，10:1のパッシブ・プローブをオシロスコープに接続した状態の簡易等価回路です．回路(a)のコンデンサ（C1）は10pFで，回路(b)のコンデンサ（C1）は9pFとなっています．このプローブで2kHz，1VPPの矩形波を観察した時，正しい波形が観察できるのはどちらでしょう？ 図1 10:1のパッシブ・プローブをオシロスコープに接続した状態の回路(a)と(b) 回路(a)のC1は10pFで，回路(b)のC1は9pFとなっている 回路(a) 10:1のパッシブ・プローブは，どんな周波数でも入力信号を1/10にしてオシロスコープに伝える必要があります．そのためには，図1において，C1/(C1+C2+C3)=R2/(R1+R2)が成り立つような定数となっている必要があります． 回路(b)はC1（9pF）が適正値より小さく，高い周波数で分圧比が大きくなり，高域が減衰する特性
幾何公差と寸法公差、測定方法は何が違うの？
前回は、実際の図例の中で、どんな幾何公差が用いられているか、概略を示しました。今回は、幾何公差というものの、従来の寸法公差図面との違いを測定の観点で考えていただきます。 ⇒ 連載バックナンバーはこちら 公差域とは まず「公差域」という概念について馴染んでいただく必要があります。読者の皆さんが慣れ親しんだ寸法公差図面では寸法公差というのは最大・最小許容寸法の差でしたね。片側公差、両側公差の違いこそあっても、極めて単純に理解することが可能です。実は、寸法公差というのはサイズを規制する寸法で、「サイズ寸法」ともいえるのです。大きく分けて長さ公差と角度公差の2種のみです。 一方、幾何公差は、前回も示したように、図1のような分類表で示される多様な公差の種類があって、単純に大きさや角度のみでなく、形状、姿勢、位置、振れといった、形状や姿勢を規制します。
アジレント、79万円からのUSB 3.0対応プロトコル・アナライザを発表 | エンタープライズ | マイコミジャーナル
計測機器ベンダ大手Agilent Technologiesの日本法人であるアジレント・テクノロジーは、USB 3.0/2.0プロトコル・アナライザ(USBプロアナ)「U4611A」「U4711B」およびUSB 3.0プロトコルジャマー「U4612A」を発表した。 これらの製品はSirialTekから買収したUSB関連技術を活用したもので、USBプロアナは、最大18GB(U4611Bの場合。U4611Aは2.25/4.5/9GBを選択可能)のトレースバッファと、550MB/s(PCI Express Gen2×4)データ・アップロードによる高速な解析メモリアクセスが特長。すでに同社ではUSBの物理レイヤ向けソリューションの提供は行ってきており、これによりUSBに関するすべてのレイヤをカバーできるようになった。 同社がこれだけの量のメモリを搭載したのは、「エラーが発生するということは、その前段
村田製作所、神戸大と電子部品の故障箇所を特定可能な非破壊検査装置を開発 | エンタープライズ | マイコミジャーナル
村田製作所 故障解析センターと神戸大学理学研究科の 木村建次郎講師の研究チームは、電子部品内部の故障箇所を映像化する検査装置を開発したことを発表した。 電子部品の故障解析には断面研磨により故障部位を見つける方法や、X線CTや超音波顕微鏡などによる非破壊検査が一般に用いられている。しかし、断面研磨による解析は部品を破壊してしまうために本当に故障箇所であったかどうかが断定しづらく、X線CTや超音波顕微鏡では電気的な故障箇所の特定ができず、いずれも故障解析手法としては不十分という課題があった。 そこで、研究チームでは、積層セラミックコンデンサやモジュール部品などの電子部品に電流が流れると電子部品の周りには磁場が発生することに着目、その磁場の測定データを基に電子部品周囲において磁場の基礎方程式を解き、得られた磁場分布から電子部品内部の故障箇所を特定する手法を考案した。 同装置では、検査対象となる電
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