(報道発表資料) 2020年11月25日 日本電信電話株式会社 国立大学法人東海国立大学機構名古屋大学 国立大学法人北海道大学 世界で初めて半導体ソフトエラーを引き起こす中性子のエネルギー特性を測定 ~宇宙・他惑星などあらゆる環境での中性子起因ソフトエラー故障数を算出可能に~ 日本電信電話株式会社(本社:東京都千代田区、代表取締役社長:澤田 純、以下「NTT」)および国立大学法人東海国立大学機構名古屋大学(愛知県名古屋市、総長:松尾 清一、以下「名古屋大学」)、国立大学法人北海道大学(北海道札幌市、総長:寳金 清博、以下「北海道大学」)は共同で、中性子のもつエネルギーごとの半導体ソフトエラー(※1)発生率(※2)を“連続的な”データとして実測することに成功し、その全貌を世界で初めて明らかにしました。 この「ソフトエラー発生率の中性子エネルギー依存性のデータ」は、宇宙線による半導体影響の研究
Slideshareは再アップロード不可なのでerrataはコチラ: p16:Structure(Conference Paper) →構成(カンファレンスペーパー) p28:Structure → 構成 p47:マン → マージン オリジナル: https://www.microsoft.com/en-us/research/academic-program/write-great-research-paper/ 旧版の翻訳(内容はほとんど同じです): https://www.slideshare.net/kdmsnr/writing-a-paper-seven-suggestions Read less
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